Multichannel Integrated System for Low Energy and High Intensity X-ray detection |
| Autor: mgr inż. Piotr Maj |
| Data: 2008-02-20 godz: 11:00 |
| Prezentacja pokazuje wkład pracy autora rozprawy doktorskiej pt. "Zintegrowany, wielokanałowy system pomiarowy do detekcji niskoenergetycznego promieniowania X o dużym natężeniu". Celem rozprawy były badania i praktyczne zastosowania zintegrowanego, wielokanałowego systemu pomiarowego do detekcji niskoenergetycznego promieniowania X o dużym natężeniu. Elementem detekcyjnym są paskowe detektory krzemowe zoptymalizowane pod kątem przewidywanych aplikacji, natomiast elektronikę odczytu stanowią specjalizowane wielokanałowe układy scalone wykonane w technologii CMOS o architekturze binarnej z możliwością selekcji impulsów wejściowych w zależności od ich amplitudy. Wielokanałowy system pomiarowy powinien charakteryzuje się niskim poziomem szumów, bardzo dobrą jednorodnością poszczególnych kanałów i możliwością pracy z bardzo dużą częstością impulsów wejściowych. Ze względu na parametry systemu z powodzeniem sprawdza się on w badaniach dyfrakcyjnych, zwłaszcza w odniesieniu do pomiarów z dużym natężeniem promieniowania X (duża częstość padających fotonów) oraz w innych technikach obrazowania, w których selekcja fotonów o ściśle określonej energii znacząco poprawia jakość uzyskiwanego obrazu. Seminarium odędzie się w sali 501, 5 piętro, w budynku C3. |
KE AGH © 2005 | | Administracja
